專注于工業CT檢測\失效分析\材料檢測分析的第三方實驗室
公正高效 \ 精準可靠 \ 費用合理
元器件篩選檢測服務
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華南檢測可滿足各等級元器件篩選方案設計和檢測需求，提供電子元器件測試、評估、質量保證的成套方案，幫助企業及時發現和剔除有缺陷、易發生早期失效的元器件，提高電子元器件的使用可靠性，保障和支撐電子裝備可靠性提升。 |  |
元器件篩選服務范圍
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電子元件：電阻、電容、電感、繼電器、磁珠、變壓器、晶體振蕩器、晶體諧振器、繼電器、電連接器等；
半導體分立器件：二極管、三極管、MOS管、IGBT、場效應管、達林頓陣列、半導體光電子器件等；
半導體集成電路：CPU、存儲器、FPGA、AD/DA、數字電路、模擬電路、混合電路、DC/DC、時基電路、總線收發器、緩沖器、驅動器、電平轉換器、 門器件、觸發器、LVDS線收發器、運算放大器、電壓調整器、電壓?較器、 電源類芯片（穩壓器、開關電源轉換器、電源監控器、電源管理等）、數模轉換器（A/D、D/A、SRD）、存儲器、可編程邏輯器件、單片機、微處理器、 控制器等；
電子模塊：電源模塊、通訊模塊、控制模塊等具備相對功能完整電路。
元器件篩選測試項目
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●外觀檢查
●電性能測試：常溫測試/高溫測試/低溫測試
●環境/機械應力檢測：振動、低溫貯存、高溫貯存、溫度循環、溫度沖擊、恒定加速度或跌落、密封（粗檢漏、細檢漏 ）、粒子碰撞噪聲檢測（PIND）
●高溫動態老煉、高溫反偏老煉、功率老煉、恒流老煉、間歇壽命老煉
●芯片超聲檢測
●X射線掃描檢測
相關資質
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元器件篩選測試標準
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GJB7243-2011軍用電子元器件篩選技術要求
GJB128A-1997半導體分立器件試驗方法
GJB360A-1996電子及電氣元件試驗方法
GJB548B-2005微電子器件試驗方法和程序
QJ10003- -2008進口元器件篩選指南
MIL-STD-750D半導體分立器件試驗方法
MIL-STD-883G微電子器件試驗方法和程序
測試須知———————————————————————————————————————————————————————————
1、測試所需：芯片規格書
2、可根據客戶需求提供中文報告
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設立專業的實驗室數十個，涉及領域廣
設立了無損檢測、掃描電鏡儀器分析、化學分析、物理分析、切片與金相測試，環境 可靠性測試等眾多實驗室，為您提供—站式材料檢測，失效分析及檢測報告。 |
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24小時提供服務，讓產品檢測/分析更高效
24小時服務，讓您的產品擁有更快的檢測速度；為您解決產品在研發、生產、貿易過 程中產生與材料相關的各種問題，讓您的產品更快的走進市場。 |
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配備十多年行業經驗的檢測團隊為您服務
實驗室以中科院自動化研究所、北京航天航空大學為依托，以具備豐富產業經驗的本 地團隊為主體，開展電子可靠性前沿基礎研究、應用推廣、失效分析、設計改善，提 升粵港澳大灣區電子產業可靠性水平。 |
